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KMP

KMP

Kompaktmessplatz Compact Measuring Platform

자동차 헤드램프의 프로젝트 빔 분야에서의 활용이 특화된
시스템으로 간접적 배광분포를 측정 할 수 있으며,
광학적 이미지 프로세싱을 통해 측정거리를 크게 줄일 수 있습니다.

광원의 병렬적 광선 범위를 하나의 초점면으로
이미지 시스템 내의 광원으로부터 출발한 모든 다발의 광선이
아크로뱃 렌즈를 통화하여 측정면에 도달하여 측정이 가능합니다.

제품이미지

기존 25m 방식을 사용한 LID 측정 시스템도 구축이 가능하며,

Technoteam 의 25m Indirect 측정 방식은
기준이 되는 LMT 장비와 근접하게 정밀하며,
측정 시간 또한 매우 짧습니다.

제품이미지
WORK FLOW

LID CHECKER

측정거리는 50cm내이며, 광원의 사이즈는 20cm 내에서 측정이 가능합니다. 광원으로 부터 발광된 광선 다발은 Achromat렌즈를 투과하여,
병렬적 구조로 반사면(Reflect wall)의 초점면에 조사되며, 휘도카메라는 반사면을 수 초내에 촬영합니다.
WORK FLOW

광도 분포 분석 기술

측정된 휘도(Luminance) 이미지정보는 좌표변환(Coordinate transform)과정을 통해 각도별 조도값과 광도값으로 변환됩니다.
WORK FLOW

Indirect(간접) 배광분포 측정방식

측정된 광 분포 이미지는 센서의 해상도에 따라 0.01도의 Angle resolution을 갖습니다.
LID Check는 해당 샘플의 분포상황을 실시간으로 확인이 가능하며, 수 초내의 측정을 통해 측정 결과 Report를 자동으로 추출할 수 있습니다.
WORK FLOW

RSD 및 생산에 수반되는 측정

LID Checker는 검사라인 측정 소프트웨어로 효율적인 카메라의 노출시간 조절을 통해 2~3초 내의
짧은 노출시간을 통한 측정시간으로 라인 측정 시 Takt time을 줄여 빠른 측정, 평가, 검사 솔루션을 제공합니다.
WORK FLOW

측정 프로토콜 매크로 제공

측정이 완료된 Report에는 샘플의 종류 및 측정조건 사항들이 입력되며,
법규에 도달한 샘플의 불가여부도 판단 할 수 있는 측정 프로토콜 매크로를 제공해 드립니다.
01
ICON
Features-
LID Checker and KIVIP
발광의 공간 분해 측정
간접법에 의한 강도 분포
헤드램프 및 리어 램프 광 측정 평가 가능
LED 모듈 광 측정 평가 가능
비행장 조명 및 반사등 광 측정 평가 가능
02
ICON
Advantages-
탁월한 영상 휘도 측정 기술
면사포 표면에서의 조도 분포 L(x,y) 측정 및 가하학적 데이터 제공
광도 분포 I(⊝,φ ) 및 조도 등 파생된 매개변수 제공
조명 표면에서의 분포 E(x,y) 측정
색도 좌표 x,y를 얻는 조명 표면의 색상 분포 측정
대비 및 색주변, 사전 정의된 측정 영역의 위치 및 광도 값 측정
03
ICON
Technical Data -
기하학적 차원 / 측정 객체의 크기
카메라 센서 / 인터페이스 /스펙트럴 매치
LMK COLOR와 함께 LID Checker 사용
색도 측정 범위의 더 많은 가능성
단면을 따라 색상의 값 분석 /세부 컷오프 라인의 분석 근거
04
ICON
Measuring Principle-
간접 광도 측정 원칙 실현
광학적 제한 거리를 유지하면서 1m 미만의 측정 거리로 최소화하는 최단 광학 시스템
광원(구면 좌표)과 반사벽(카메라 좌표) 사이의 기하학적 및 측광학적 관계 파악
광도 분포 I(⊝,φ )를 휘도 L(x, y) 이미지에서 자동으로 계산
독립형 측정 스테이션으로 사용 또는 산업 제조 장비에도 통합 가능
FIELD OF

APPLICATIONS

리플렉터 램프 / 헤드램프 / 비행장 조명 / 계측에 수반되는 연구개발 및 생산
Kompaktmessplatz Compact Measuring Platform

KMP

KMP는 광도분포 분석을 위한 LID CHECKER R&D 및 생산 관련 측정기술 장비입니다.

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